旺矽科技股份有限公司 相關專利權資料
總計 27 筆資料
資料來源為：經濟部智慧財產局開放資料 API。
| 公告日 | 公告號 | 專利類別 | 專利名稱 |
|---|---|---|---|
| 2026-02-01 | I913598 | 發明 | 用於具有傾斜導電接點之待測單元的探針模組與測試方法以及待測單元及測試系統 |
| 2026-01-11 | I911840 | 發明 | 探針裝置及其製造方法以及包含有該探針裝置的探針卡 |
| 2025-12-11 | I908553 | 發明 | 探針頭、探針卡、測試設備及由測試設備進行測試的電子裝置 |
| 2025-12-01 | I906934 | 發明 | 基於人工智能的自動化節點流程生成系統、運作方法、檢測系統與非暫態電腦可讀取儲存媒體 |
| 2025-12-01 | I906878 | 發明 | 快接式探針座 |
| 2025-12-01 | I906840 | 發明 | 用於對整合在半導體晶圓的受測裝置進行測試的探針系統及其中之探針卡、探針頭與導板結構 |
| 2025-12-01 | I906839 | 發明 | 用於對整合在半導體晶圓的受測裝置進行測試的探針系統及其中之探針卡、探針頭與導板結構 |
| 2024-11-11 | I861896 | 發明 | 探針座位置調整方法及使用該方法之可換探針座之測試機 |
| 2024-10-11 | I858524 | 發明 | 電路板檢測設備 |
| 2024-09-11 | I855832 | 發明 | 探針卡、探針卡設計方法、生產/產生被測試的半導體器件的方法、利用一探針卡測試一未封裝半導體器件的方法、待測物以及探針系統 |