旺矽科技股份有限公司 相關專利權資料

總計 63 筆資料

資料來源為:經濟部智慧財產局開放資料 API。


公開公告日期 公開公告號 專利類別 專利名稱
2023-08-01 I810885 發明 用於半導體測試之電路板
2023-07-11 I808707 發明 光學檢測系統與光學檢測方法
2023-07-11 I808714 發明 可互換型半導體物料視覺背檢與正檢系統及其設定方法
2023-06-01 202321703 發明 探針系統及其機台裝置
2023-05-16 202319729 發明 光路校正配件、光學檢測組件以及光學檢測系統
2023-03-01 202309514 發明 光學檢測系統以及用於預定目標物的對位方法
2022-11-01 202242424 發明 用於半導體測試之電路板
2022-10-16 202240148 發明 光學檢測系統與光學檢測方法
2022-10-16 202240153 發明 可互換型半導體物料視覺背檢與正檢系統及其設定方法
2022-05-01 202218007 發明 對齊晶圓的方法