旺矽科技股份有限公司 相關專利權資料

總計 63 筆資料

資料來源為:經濟部智慧財產局開放資料 API。


公開公告日期 公開公告號 專利類別 專利名稱
2024-05-01 202417856 發明 探針卡、探針卡設計方法、生產/產生被測試的半導體器件的方法、利用一探針卡測試一未封裝半導體器件的方法、待測物以及探針系統
2024-04-16 202415960 發明 具有彈簧探針的探針頭
2024-04-11 I838543 發明 可同時用於高頻及中低頻訊號測試之探針頭
2024-03-21 I836694 發明 光路校正配件、光學檢測組件以及光學檢測系統
2024-01-21 I829897 發明 探針製造方法
2024-01-01 202400974 發明 光學檢測系統及其整合式光學檢測裝置
2023-12-11 I825442 發明 對齊晶圓的方法
2023-12-01 I824565 發明 光學檢測系統及其整合式光學檢測裝置
2023-10-21 I819747 發明 光學檢測系統以及用於預定目標物的對位方法
2023-09-01 I814536 發明 探針系統及其機台裝置