由田新技股份有限公司 相關專利權資料
總計 53 筆資料
資料來源為：經濟部智慧財產局開放資料 API。
| 公開公告日期 | 公開公告號 | 專利類別 | 專利名稱 |
|---|---|---|---|
| 2023-11-11 | I821348 | 發明 | 量測孔狀結構的自動光學檢測系統 |
| 2023-11-01 | 202342961 | 發明 | 基於雷射光源之光學檢測系統及雷射光學系統 |
| 2023-11-01 | 202343083 | 發明 | 整合型光源裝置及其光學檢測系統 |
| 2023-09-01 | I814365 | 發明 | 基於雷射光源之光學檢測系統及雷射光學系統 |
| 2023-08-11 | I812161 | 發明 | 整合型光學檢測設備 |
| 2023-08-01 | I810445 | 發明 | 半導體料片之整平裝置及其整平方法 |
| 2023-05-01 | 202318553 | 發明 | 基板承載結構以及基板檢測裝置 |
| 2022-11-16 | 202244487 | 發明 | 螢光影像檢測系統 |
| 2022-11-01 | 202242529 | 發明 | 整合型光學檢測設備 |
| 2022-01-16 | 202202828 | 發明 | 用於基板的線路量測系統及方法 |