梭特科技股份有限公司 相關專利權資料
總計 39 筆資料
資料來源為：經濟部智慧財產局開放資料 API。
| 公開公告日期 | 公開公告號 | 專利類別 | 專利名稱 |
|---|---|---|---|
| 2026-06-11 | I928301 | 發明 | 利用二維光學尺調整固晶裝置的位置的固晶方法 |
| 2026-05-21 | I926280 | 發明 | 可調節光吸收率和透光率的固晶裝置及方法 |
| 2026-05-21 | I926393 | 發明 | 半導體的微凸塊的高度量測方法 |
| 2026-03-16 | 202612039 | 發明 | 半導體的微凸塊的高度量測方法 |
| 2026-03-01 | I916877 | 發明 | 避免影像模糊的半導體影像檢測方法 |
| 2026-03-01 | I917143 | 發明 | 固晶裝置適應基板角度的固晶方法 |
| 2026-02-21 | I915865 | 發明 | 提升晶粒預先排列的精準度的對位方法 |
| 2026-01-16 | 202603471 | 發明 | 避免影像模糊的半導體影像檢測方法 |
| 2026-01-16 | 202603958 | 發明 | 提升晶粒預先排列的精準度的對位方法 |
| 2026-01-01 | 202601858 | 發明 | 利用二維光學尺調整固晶裝置的位置的固晶方法 |