聯華電子股份有限公司 相關專利權資料
總計 431 筆資料
資料來源為：經濟部智慧財產局開放資料 API。
| 公開公告日期 | 公開公告號 | 專利類別 | 專利名稱 |
|---|---|---|---|
| 2026-06-11 | I928353 | 發明 | 金屬氧化物半導體電晶體的檢測方法 |
| 2026-06-11 | I928531 | 發明 | 半導體元件及其製作方法 |
| 2026-06-11 | I928696 | 發明 | 半導體結構及其形成方法 |
| 2026-06-11 | I928723 | 發明 | 半導體記憶體裝置及其製作方法 |
| 2026-06-11 | I928782 | 發明 | 包含有高壓元件與低壓元件的半導體結構以及其製作方法 |
| 2026-06-01 | 202622626 | 發明 | 產生光學鄰近校正圖案的方法 |
| 2026-06-01 | I927130 | 發明 | 氮化鎵元件以及高電子遷移率電晶體的製造方法 |
| 2026-06-01 | I927136 | 發明 | 半導體結構 |
| 2026-06-01 | I927173 | 發明 | 半導體單元的佈局圖案及其形成方法 |
| 2026-06-01 | I927441 | 發明 | 靜態隨機存取記憶體結構以及其製作方法 |